Физическая энциклопедия - дебая - шеррера метод

Поскольку это условие может одновременно выполняться для неск. семейств кристаллографич. плоскостей, то возникает совокупность дифракц. конусов с различными углами раствора 2q. Для того чтобы все кристаллики последовательно вывести в отражающее положение, образец равномерно вращают вокруг оси, перпендикулярной направлению первичного пучка.

Рассеянное излучение можно регистрировать на фотоплёнке (дебаеграмма) в цилиндрич. (дебаевской) рентгеновской камере (рис. 2). В рентгеновском дифрактометре дифракц. максимумы регистрируются фотоэлектрич. или ионизац. приёмником Рис. 2. Схема получения дебаеграммы б в цилиндрич. дебаевской камере а (0 образец, ПП первичный рентг.

пучок). На дебаеграмме б видны полосы, оставляемые на фотоплёнке Ф дифракц. пучками ДП. Д.Ш. м. применяется для установления размеров и формы элем. крист. ячейки, размеров и пространств. ориентации кристалликов, определения деформаций и напряжений, а также для фазового анализа поликрист. объектов (см. РЕНТГЕНОВСКИЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, РЕНТГЕНОГРАФИЯ МАТЕРИАЛОВ).