Физическая энциклопедия - рентгеновская камера

прибор для изучения и контроля ат. структуры образца путём регистрации на фотоплёнке картины, возникающей при дифракции рентгеновских лучей на исследуемом образце. Применяется в рентгеновском структурном анализе, рентгенографии материалов, рентгеновской топографии. Назначение Р. к.обеспечить выполнение условий дифракции рентг.

лучей согласно Брэгга Вульфа условию и получение рентгенограмм. Источником излучения для Р. к. Служит рентгеновская трубка. Р. к. конструктивно различны в зависимости от их назначения (камеры для исследования монокристаллов, поликристаллов, для рентг. топографии, для получения малоугловых рентгенограмм и др.). Все Р. к. (см. приведённые ниже рис.

Коллиматор формирует рабочий пучок первичного излучения. Вместо него иногда применяется кристалл-монохроматор, к-рый создаёт узкий пучок рентг. излучения определённых длин волн (монохроматич. излучение). В качестве монохроматора используют также селективно поглощающие фильтры. Узел установки образца служит для закрепления образца в держателе и задания ему определённого положения относительно первичного пучка, для выведения образца на ось вращения (центрировки), а в Р.

к. для исследования монокристаллов для наклона образца на гониометрич. головке (рис. 1). Рис. 2. Осн. схемы рентг. камер для исследования поликристаллов: а дебаевская камера; б фокусирующая камера с изогнутым кристаллом монохроматором для исследования образцов «на просвет» (область малых углов дифракции); в фокусирующая камера для обратной съёмки (большие углы дифракции) на плоскую кассету.

Стрелками показаны направления прямого и дифрагированного пучков. О образец; Fфокус рентг. трубки; М кристалл-монохроматор; К кассета с фотоплёнкой Ф; Л ловушка, перехватывающая первичный пучок; ФО окружность фокусировки, по к-рой располагаются дифракц. максимумы; КЛ коллиматор; МЦ механизм центрировки образца. Рис. 3. Схемы осн.

головки. В Р. к. для исследования поликристаллов (рис. 2) применяют как параллельный первичный пучок (дебаевские Р. к.; (см. ДЕБАЯ ШЕРРЕРА МЕТОД)), так и расходящийся (фокусирующие Р. к.). Р. к. для исследования монокристаллов конструктивно различны в зависимости от назначения (Р. к. для получения лауэграмм, Р. к. вращения-колебания для измерения параметров крист.

решётки, Р. к. для определения типа элем. ячейки; рис. 3). Р. к., регистрирующие все дифракц. максимумы (рефлексы) отдельно один от другого (развёртки слоевых линий), наз. рентгеновскими гониометрами. В рентг. гониометрах и Р. к. для рентг. топографии кассета перемещается или вращается синхронно с образцом. Для исследования аморфных и стеклообразных тел и р-ров применяют Р.