Физическая энциклопедия - структурный фактор

С. ф. определяется как сумма ат. факторов fj с учётом имеющихся пространств. сдвигов фаз между волнами, рассеянными разл. атомами: F(h, k, l)SNj=1jexp 2p(hxj+kyj+lzj) (i=?-1; h, k, l -индексы Миллера, (см. ИНДЕКСЫ КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЕ)). С. ф. связан с амплитудой рассеяния элем. ячейки кристалла. Интенсивность I(h,k,l) дифракц. максимума с индексами h, k, l пропорц.

квадрату модуля соответствующего С. ф.: I(h,k,l)=|F(h,k,l) |2. Отсюда следует, что по экспериментально определяемым I(h,k,l) можно найти лишь модуль С. ф. |F(h,k,l)|, так что однозначно определить С. ф. по интенсивностям дифракц. максимумов нельзя. Связь С. ф. с индивидуальными рассеивающими св-вами каждой крист. структуры лежит в основе структурных исследований кристаллов.

По тому, какие именно дифракц. максимумы исчезли, можно (хотя и не всегда однозначно) определить пространственную группу симметрии кристалла. Зная С. ф. для всех дифракц. отражений h, k, l, можно построить распределение электронной плотности (электростатич. потенциала или спиновой плотности) кристалла, что служит теор. основой структурного анализа кристаллов.