Физическая энциклопедия - аппаратная функция
Аппаратная функция
величины, jf(x) истинное распределение, а(х) А. ф. С помощью этого интегр. ур-ния во всех реально встречающихся на практике случаях может быть решена обратная задача, т. е. по известному измеренному распределению f(х) и известной А. ф. а (х) может быть найдено истинное распределение j(х). А. ф. может быть рассчитана теоретически по известным параметрам измерит, устройства, напр.
для оптич. спектрометра А. ф. рассчитывается по оптич. параметрам диспергирующего элемента, коллиматорного зеркала и щели. А. ф. для оптич. спектрометра может быть определена и экспериментально, путём освещения входной щели строго монохроматич. светом частоты v. При перестройке спектрометра по частоте в окрестности этого значения частоты на выходе спектрометра измеряют распределение светового потока по частотам, к-рое и будет А.
ф. (Подробнее об А. ф. спектрометров (см. СПЕКТРАЛЬНЫЕ ПРИБОРЫ). А.ф. оптического прибора, создающего изображение (фотоаппарат, телескоп, микроскоп и др.), описывает распределение освещённости в создаваемом прибором изображении бесконечно малого (точечного) источника излучения.Идеальный оптич. прибор, по определению, изображает точечный источник излучения в виде точки j(х, у); его А. ф. везде, кроме этой точки, равна нулю. Реальные оптич. приборы изображают точку в виде пятна рассеянной энергии; А.ф. таких приборов не. равна нулю в области кон. размеров f(х, у). Величина этой области и вид А. ф. для разл. приборов различны.
В безаберрац. приборах величина А. ф. определяется дифракцией света и может быть рассчитана для разных форм апертурной диафрагмы. Угл. размеры области, в к-рой А. ф. отлична от нуля, по порядку величины равны l/D, где l длина волны, D размер входного зрачка. Аберрации и дефекты изготовления оптич.деталей приводят к дополнит. расширению области, в к-рой А.ф. отлична от нуля. Площадь кон. размеров f(x, у), к-рую занимает изображение точечного источника реальным прибором, и явл. в этом случае А. ф. этого оптич. прибора а(х, у). Расчёт А.ф. при наличии аберраций очень сложен и практически не всегда возможен. Поэтому А. ф. часто определяют эксперим.
путём. А. ф. позволяет оценить разрешающую способность оптич. приборов: чем шире А. ф., тем хуже разрешение (меньше разрешающая способность). .