Физическая энциклопедия - визуализация изображений
Визуализация изображений
величине параметра невидимого изображения, напр, давлению УЗ поля (см. ВИЗУАЛИЗАЦИЯ ЗВУКОВЫХ ПОЛЕЙ), энергетич. освещённости для ИК и УФ диапазонов и др. В ряде случаев возможна В. и. не только по распределению интенсивности, но и по распределению фазы (см. ФАЗОВЫЙ КОНТРАСТ) или поляризации (см. о поляризац. микроскопе в ст.) (см. МИКРОСКОП).
В зависимости от диапазона невидимого излучения и его действия на приёмники оптического излучения существует неск. методов В. и. Для излучений в рентг., УФ и ближней ИК (до 1,3 мкм) области спектра применим фотографический метод, основанный на фотохим. действии излучения на приёмник (фотопластинки, фотоплёнки и др. виды фотослоев).
В УФ и рентг. областях используются также люминесцентные экраны (иногда в комбинации с электронно-оптич. усилителем яркости изображения), телевиз. трубки. В ближней ИК области широко применяется также фотоэлектрический метод В. и., основанный на изменении фотопроводимости приёмника при ИК облучении. Приборами, использующими этот метод В.
и., явл. электронно-оптические преобразователи. В более длинноволновой ИК области (до 14 мкм) используются системы тепловидения, основанные на температурной зависимости св-в чувствит. элемента системы, нагревающегося при поглощении ИК излучения. В кач-ве температурно-чувствит. материалов используются крист. люминофоры (люминесцентные экраны с тепловым тушением люминесценции под действием ИК излучения и даже СВЧ диапазона), тонкие плёнки полупроводников и пироэлектриков, магнитные тонкие плёнки, холестерические жидкие кристаллы и др. (см. ТЕПЛОВИДЕНИЕ). Развиваются методы В. и., основанные на параметрич. преобразовании частоты ИК излучения в нелинейных кристаллах при накачке лазерным излучением в видимое излучение (см. ГОЛОГРАФИЯ). Совр. тепловизоры со сканированием позволяют производить без к.-л. подсветки В. и. объектов, темп-ра к-рых на 0,1-0,2 В°С превышает фоновую (обычно комнатную). Несканирующие методы В. и. при чувствительности 10-4-10-6 Вт/см2 и разрешении до 10-20 штрихов/мм нашли применение в ИК голографии, дефектоскопии и лазерных исследованиях. .