Физическая энциклопедия - зеркально-линзовые системы

(катадиоптрические системы), оптич. системы, содержащие отражающие (зеркала оптические) и преломляющие поверхности (линзы). В нек-рых З.-л. с. зеркала выполняют чисто конструктивные функции (изменение направления светового пучка, уменьшение габаритов прибора и т. п.), не Оптич.схемы зеркально-линзовых систем с линзовыми компенсаторами ЛК аберраций: а сверхсветосильный объектив с большим углом зрения (до 30В°) для фотосъемки движущихся небесных тел; б телескоп с параболоидальным зеркалом, в система с параболоидальным большим зеркалом и сферическим малым зеркалом З. влияя на кач-во изображения. Примером таких систем могут служить зеркально-линзовые конденсоры микроскопов.

В других случаях зеркала играют осн. роль в образовании изображений, а линзы служат гл. обр. для исправления аберраций, вносимых зеркалами (см. АБЕРРАЦИИ ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ). Оптич. св-ва зеркал не меняются при изменении длины волны падающего света (т. е. зеркала ахроматичны), поэтому З.

-л. с. широко применяются в случаях, когда оптич. система должна обладать большим фокусным расстоянием и большим диаметром (напр., объективы телескопов). Одна из осн. областей применения З.-л. с.астрономия. Сочетание зеркал разной формы и разл. комбинаций линзовых компенсаторов позволило создать З.-л. с. с большим углом зрения и светосилой (рис.

, а, б), уменьшить длину астр. и фотогр. приборов (рис., в). З.-л. с. используются в кач-ве светосильных фотогр. объективов и телеобъективов. У этих систем сравнительно небольшое поле зрения, однако их разрешающая способность выше, чем у линзовых объективов с такими же хар-ками. З.-л. с. применяются при конструировании объективов микроскопов.

Такие объективы обычно взаимозаменяемы с линзовыми, но обладают рядом преимуществ, особенно при исследовании в УФ лучах. В микроскопах также широко используется осветительная З.-л. с.конденсор. Ахроматичность и высокий коэфф отражения зеркал в широкой спектр области обусловили использование З.-л. с. и в др. приборах, работающих в УФ и ИК областях спектра (в частности, в спектральных приборах).

.