Энциклопедический словарь нанотехнологий - дислокация
Дислокация
Термин на английском
dislocationСинонимы
Аббревиатуры
Связанные термины
Определение
линейный дефект кристаллической решетки, искажающий правильное расположение атомных (кристаллографических)
плоскостей.
ОписаниеДислокации отличаются от других дефектов в кристаллах тем, что значительное нарушение регулярного чередования
атомов сосредоточено в малой окрестности некоторой линии, пронизывающей кристалл. Такие нарушения представляют собой линейные искажения типа обрыва или сдвига атомных слоев, нарушая при этом правильность их чередования. Поперечные размеры линейного дефекта не превышают одного или нескольких межатомных расстояний, а длина может достигать размеров кристалла. Понятие о дислокации было введено в 40-е годы XX в. Френкелем и Тейлором для объяснения механизма пластической деформации.
Различают два типа дислокации: краевая и винтовая. Если одна из атомных плоскостей обрывается внутри кристалла, возникает краевая дислокация, край «лишней» полуплоскости является ее осью. Простейшая наглядная модель краевой дислокации — книга, у которой от одной из внутренних страниц оторвана часть. Тогда, если страницы книги уподобить атомным плоскостям, то край оторванной части страницы моделирует линию краевой дислокации. Винтовая дислокация возникает при сдвиге на период решетки одной части кристалла относительно другой вдоль некоторой полуплоскости параллельно ее краю, играющему роль оси дислокации.
Дислокации всегда присутствуют в реальных кристаллах. Характерная концентрация дислокаций составляет для металлов 1011 м-2, а для диэлектриков 108 м-2. Методы наблюдения дислокаций: избирательное химическое травление, анализ фотоупругости, рентгеноструктурный анализ и электронная микроскопия.
Авторы- Вересов Александр Генрихович, к.х.н.
- Стрелецкий Алексей Владимирович, к.х.н.
Теги
Разделы
Дифракционные методы (рентгеновские, электронные, нейтронные)
Просвечивающая электронная микроскопия, в том числе высокого разрешения
Метрология, стандартизация и сертификация продукции наноиндустрии (включая методики анализа и испытаний)
Вопрос-ответ:
