Энциклопедический словарь нанотехнологий - фокусированный ионный пучок
Фокусированный ионный пучок
Термин на английском
focused ion beamСинонимы
Аббревиатуры
FIBСвязанные термины
Определение
концентрированный поток ионов, который используют в современных исследовательских приборах и технике для интенсивной и прецизионной обработки разных материаловОписание
При получении и обработке неорганических материалов применяются жёсткие методы ионизации вещества, поскольку энергии связи атомов в твёрдом теле весьма велики, и для разрыва этих связей с образованием ионов необходимо еще более высокоэнергетическое воздействие.
Среди методов ионизации следует отметить:
- ионизацию в индуктивно-связанной плазме (ICP);
- термоионизацию или поверхностная ионизацию;
- ионизацию в тлеющем разряде и искровую ионизацию (см. искровой разряд);
- ионизацию в процессе лазерной абляции.
В современной практике для получения нано/микроструктур широко используются жидкометаллические ионные источники (Ga+). Все большее распространение получают приборы с гелиевыми источниками. Для фокусировки ионного пучка используют электромагнитные линзы.
Использование фокусированных ионных пучков лежит в основе работы ионных микроскопов, приборов для прецизионной ионной резки и травления материалов, масс-спектрометров, адронных коллайдеров и др.
Авторы- Вересов Александр Генрихович, к.х.н.
- Саранин Александр Александрович, д.ф.-м.н.
Теги
Разделы
Фокусированная ионная резка
Наноимпринтинг и травление
Прецизионная обработка поверхности сложной формы
Методы обработки и формирования структур с прецизионным позиционированием (нанолитография, нанообработка, нанопечать, наноструйная техника и другое)